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    DINEN2591-402-1998航空和航天.电器和光学仪器连接件.检验方法.第402部分_冲击
    DINEN2591-403-1998航空和航天.电器和光学仪器连接件.检验方法.第403部分_正弦振动和噪声振动
    DINEN2591-404-1998航空和航天.电器和光学仪器连接件.检验方法.第404部分_横向力
    DINEN2591-405-1998航空和航天.电器和光学仪器连接件.检验方法.第405部分_轴向力
    DINEN2591-406-1998航空和航天.电器和光学仪器连接件.检验方法.第406部分_机械寿命
    DINEN2591-407-1999航空和航天.电器和光学仪器连接件.检验方法.第407部分_触点夹持和密封的稳定性
    DINEN2591-408-1998航空和航天.电器和光学仪器连接件.检验方法.第408部分_接合力和断开力
    DINEN2591-409-1999航空和航天.电器和光学仪器连接件.检验方法.第409部分_接触插接件中触点的紧密固定
    DINEN2591-410-1998航空和航天.电器和光学仪器连接件.检验方法.第410部分_壳体中触点插件的固定
    DINEN2591-411-1998航空和航天.电器和光学仪器连接件.检验方法.第411部分_壳体中触点插件的扭转保持性
    DINEN2591-412-1999航空和航天.电器和光学仪器连接件.检验方法.第412部分_触点的插接力和拉力
    DINEN2591-413-1998航空和航天.电器和光学仪器连接件.检验方法.第413部分_弹簧接地装置的保持力
    DINEN2591-414-1998航空和航天.电器和光学仪器连接件.检验方法.第414部分_带电缆馈线断开装置的插接件的分
    DINEN2591-415-2002航空和航天系列.电气和光学连接件.检验方法.第415部分_检验探测器损害情况(塞孔接点)
    DINEN2591-416-2002航空和航天系列.电气和光学连接件.检验方法.第416部分_触点抗弯强度
    DINEN2591-417-2002航空和航天系列.电气和光学连接件.检验方法.第417部分_抗拉强度(压合连接)
    DINEN2591-418-2002航空和航天系列.电气和光学连接件.检验方法.第418部分_量规插入和拔出力(塞孔接点)
    DINEN2591-419-2002航空和航天系列.电气和光学连接件.检验方法.第419部分_插入物中插塞接点稳定性
    DINEN2591-420-2002航空和航天系列.电气和光学连接件.检验方法.第420部分_后部附件的机械强度
    DINEN2591-421-2003
    DINEN2591-422-2003
    DINEN2591-423-2002
    DINEN2591-424-2002航空航天系列.电气和光学连接件的试验方法.第424部分_无钎焊缠绕连接件的剥离力
    DINEN2591-425-2002航空和航天系列.电气和光学连接件.检验方法.第425部分_无钎焊缠绕连接的非缠绕性
    DINEN2591-426-2002航空和航天系列.电气和光学连接件.检验方法.第426部分_触点保持系统的有效性
    DINEN2591-427-2002航空和航天系列.电气和光学连接件.检验方法.第427部分_防护罩附件的坚固性
    DINEN2591-428-2003
    DINEN2591-501-2003
    DINEN2591-502-2002航空和航天系列.电气和光学连接件.检验方法.第502部分_束口
    DINEN2591-503-2002航空和航天系列.电气和光学连接件.检验方法.第503部分_压合后触点变形
    DINEN2591-505-2002航空和航天系列.电气和光学连接件.检验方法.第505部分_触点防护有效性(防碰擦)
    DINEN2591-506-2002航空和航天系列.电气和光学连接件.检验方法.第506部分_工具的使用
    DINEN2591-507-2003
    DINEN2591-508-2003
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    DINEN2591-512-2003
    DINEN2591-513-2003
    DINEN2591-514-2003
    DINEN2591-515-2006
    DINEN2591-601-2002航空航天系列.电气和光学连接件.检验方法.第601部分_光学元件.嵌入式损耗
    DINEN2591-602-2002航空航天系列.电气和光学连接件.检验方法.第602部分_光学元件.衰减变量和光学间断性
    DINEN2591-603-2002航空航天系列.电气和光学连接元件.试验方法.第603部分_光学元件.配电的变化
    DINEN2591-604-2002航空航天系列.电气和光学连接件.检验方法.第604部分_光学元件.光学平面的净化能力
    DINEN2591-605-2002航空航天系列.电气和光学连接元件.试验方法.第605部分_光学元件.回程损耗
    DINEN2591-606-2002航空航天系列.电气和光学连接元件.试验方法.第605部分_光学元件.串音
    DINEN2591-607-2002航空航天系列.电气和光学连接元件.试验方法.第607部分_光学元件.对周围光耦合的抗扰性
    DINEN2591-609-2000
    DINEN2591-610-2002航空航天系列.电气和光学连接件.检验方法.第610部分_光学元件.电缆附件的有效性.电缆牵
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    DINEN2591-611-2002航空航天系列.电气和光学连接件的试验方法.第611部分_光学元件.电缆附件的有效性.电缆扭
    DINEN2591-612-2002航空航天系列.电气和光学连接件的试验方法.第612部分_光学元件.电缆附件的有效性.电缆轴
    DINEN2591-613-2002航空航天系列.电气和光学连接元件.试验方法.第613部分_光学元件.冲击试验
    DINEN2591-614-2002航空航天系列.电气和光学连接元件.试验方法.第614部分_光学元件.连接件径向压缩
    DINEN2591-615-2002航空航天系列.电气和光学连接件的试验方法.第615部分_光学元件.衡温下电缆联接整体性
    DINEN2591-617-2002航空航天系列.电气和光学连接元件.试验方法.第617部分_光学元件.温度循环
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    DINEN2591-6317-2003
    DINEN2591-6318-2003
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    DINEN2591-6406-2003
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